• <menu id="a8kma"><strong id="a8kma"></strong></menu>
  • <nav id="a8kma"><strong id="a8kma"></strong></nav>
    <nav id="a8kma"></nav>
    <nav id="a8kma"></nav>
  • <menu id="a8kma"></menu>
    <menu id="a8kma"><tt id="a8kma"></tt></menu>
  • 產品分類品牌分類
    元素分析儀
    原子力顯微鏡AFM
    力學測試設備
    熱分析儀器
    光學檢測設備
    密度儀
    水分儀、PH/電導率儀
    色彩管理和檢測設備
    天平
    粘度和流變
    橡塑行業專用測試設備
    包材檢測設備
    恒溫水浴系列
    環境類檢測設備
    樣品制備和加工系列
    首頁 > 品牌列表
    粘度/示差檢測器 產品型號: BI-2010/2020粘度/示差檢測器
    儀器簡介: BI-2010粘度檢測器采用全新專利技術的毛細管全橋式設計,具有高靈敏、低展寬、低噪音和節約測量時間等特點,其溫控可從室溫達到80℃。利用BI-2010可得到特征粘度,對樣品進行同樣校正,從而得到真實分子量和結構信息。特征粘度的檢測結合Mark-Houwink曲線,得到分子機...
    產品售價:咨詢     貨期:
    示差折射儀 產品型號:BI-DNDC示差折射儀
    儀器簡介: BI-DNDC示差折射儀按測量方式區分:在靜態方式下是測量聚合物溶液dn/dc值的專用儀器。采用注射器(2~2.5mL)直接進樣,樣品溶液濃度范圍0.1~10mg/mL。在動態方式下作為凝膠色譜系統的在線示差檢測器。采用進樣閥進樣,由蠕動泵或HPLC泵驅動。
    產品售價:咨詢     貨期:
    圓盤式離心/沉降粒度儀 產品型號:BI-DCP/BI-XDC圓盤式離心/沉降粒度儀
    儀器簡介: BI-DCP/ BI-XDC是基于經典的離心/沉降原理,通過高精度的數字式電機控制,是迄今為止具有統計意義的粒度儀中分辨率、準確率*高的測量儀器。廣泛應用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業的質量控制方面。
    產品售價:咨詢     貨期:
    廣角動靜態激光光散射儀 產品型號:BI-200SM廣角動靜態激光光散射儀
    儀器簡介: 廣角激光光散射儀采用TurboCorr數字相關器,通過動態光散射的方法可以測量小至1nm的納米顆粒分布情況,通過靜態光散射的方法可測量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲線、分子量、均方根回旋半徑及**維里系數。經國內外眾多**實驗室使用,證明BI-200SM是研究聚合物...
    產品售價:咨詢     貨期:
    亞微米/納米激光粒度儀 產品型號:BI-90Plus亞微米/納米激光粒度儀
    儀器簡介: 90Plus亞微米/納米激光粒度儀基于動態光散射原理,是一種快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。 動態光散射原理: 由于顆粒在懸浮液中的布朗運動,使得光強隨時間產生脈動。采用數字相關器技術處理脈沖信號,可以得到顆粒運動的擴散信息后,進而利用Stokes-Ei...
    產品售價:咨詢     貨期:
    納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀 產品型號:90Plus PALS 納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀
    儀器簡介:90Plus PALS納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀是目前唯一能夠**測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器,它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術,比其它測量Zeta電位的技術靈敏度高1000倍!
    產品售價:咨詢     貨期:
    Omni多角度納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀 產品型號:Omni多角度納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀
    儀器簡介:Omni多角度納米激光粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀上乘結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術,擁有15°、90°與173°三個散射角度,突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術徹底解決了低...
    產品售價:咨詢     貨期:
    主營產品:

    Chatillon測力計,納米激光粒度儀,摩擦磨損試驗機,自動熔點儀,Park Systems原子力顯微鏡,英國邁菱Mecmesin材料試驗機,聚合物測試和樣品制備系統,密度儀,折光儀,旋光儀,卡爾費休水分儀,包材檢測用熱封儀,Julabo恒溫水浴,愛色麗色度計,梅特勒熱分析儀


    Copyright@ 2003-2021  儀思通科技(香港)有限公司版權所有     
    電話:021-33688380 傳真:021-33688619   郵編:200233    地址:上海徐匯區宜山路705號科技大廈A座501B室
                
    幸运快三 <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链>